IC芯片外观检测设备

IC 芯片外观检测设备能精准检测芯片外观瑕疵,误报漏检率低,还支持人工复判、输送带调速和多程序存储。
检测范围
Scope of Testing

检测范围

外观检测

磕伤、划伤、压伤、段差、凸出(3D)、凹痕、裂缝、夹带、断带、脏污、弯曲、变形、刻度、字符

标签贴附内容状态

褶皱、倾斜、重复、破损、脏污、倒置

标记内容

DCODE栏有无印字、核对内容

检测能力
Inspection capabilities

塑封后芯片六面外观检测分选检测项目 - CS 系列

PAD缺陷

PAD缺陷

PAD缺陷

PAD缺陷

PAD缺陷

PAD缺陷

案例视频
Case video

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