可对 IGBT 半导体功率模块六个面进行瑕疵检测,还能检测 Pin 针高度、位置度以及模块是否存在异色情况,全方位覆盖外观质量关键要素,保障模块外观质量检测无死角。
能适配两种不同尺寸(152×62×20.8mm和237×235×27mm)的 IGBT 半导体功率模块,通过不同的拍照、扫描次数等方式,满足不同规格产品的检测需求,提升设备的通用性。
针对模块的长边、顶面、短边、底面等不同部位,分别制定了详细且具针对性的检测操作,如长边检测中不同系列模块拍照次数不同,顶面和底面检测采用线扫相机且根据系列确定扫描次数等,确保每个部位都能得到精准检测。
明确指出因缺少实验器件、充足样品以及异色样品,当前方案存在局限性,同时提示线扫相机对点状划痕有漏检风险,让使用者能清晰知晓方案的适用情况与潜在问题,为实际应用中的优化调整提供参考。
专为卷盘式 MLCC 设计,同步检测卷盘槽位偏差、破损及 MLCC 表面缺陷、引脚异常,最小识别精度 0.01mm²。采用动态同步扫描,检测效率 300mm / 分钟,适配 50-300mm 规格卷盘;AI...