IGBT外观检测设备
卓仓芯微 IGBT 外观检测设备搭载 AOI 视觉检测技术,可精准识别 IGBT 功率器件表面划痕、脏污、引脚形变、封装缺损等外观缺陷,适配 IGBT 封装量产线全检工序,具备高检出率与高稳定性,助力功率半导体产线高效品质管控。
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卓仓芯微 IGBT 外观检测设备搭载 AOI 视觉检测技术,可精准识别 IGBT 功率器件表面划痕、脏污、引脚形变、封装缺损等外观缺陷,适配 IGBT 封装量产线全检工序,具备高检出率与高稳定性,助力功率半导体产线高效品质管控。
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卓仓芯微 IC 芯片外观检测设备搭载 AOI 视觉检测技术,可精准识别 IC 芯片表面划痕、崩边、封装缺损、引脚形变、丝印异常等外观缺陷,适配多规格 IC 芯片封装量产全检工序,具备高检出率与高稳定性,助力半导体产线高效品质管控。
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卓仓芯微晶圆测厚仪为半导体产线提供高精度晶圆厚度量测方案,支持多种规格晶圆检测,可精准测量晶圆整体厚度、膜层厚度参数,具备高稳定性、高重复精度,适配晶圆制造、封装测试全流程的量测质控需求。
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应用于半导体封装测试产业,可依客户需求将7"或13"ICReel贴上标签后,将干燥剂、湿度卡一同置入平口抗静电铝袋内进行真空密封,亦可另外搭配纸盒成形模组。可节省人力成本、减少工安、提升ICReel卷带包装 品质并确保其包装之气密性,符合智能产线智动化之需求。
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应用于半导体封装测试产业,在IC出货至客户端前进行ICTray盘自动包装作业,达到节省人力及包装过程监控管制,可保障客户产品品质。本设备用于将Tray自动拆除魔术带、移除ID卡,并放上标签卡后,依据设定打上束带,将干燥剂及湿度卡置入抗静电袋内进行真空密封。
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可依客户需求将包装好的晶圆盒(FOUP、FOSB)进行单层或双层袋拆开,同时读取/覆判帐料资讯。可取代人工作业、减少人工拆包失误,减少工安问题,维持产品品质,有效降低人工作业产生之晶圆破片风险,符合智能产线智动化之需求。
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设备特性●可客制单层或双层包装 ●RFID自动装卸及可回收 ●自动真空热封●补料不停线●流程纪录可追朔●填充氮气功能●可串接OHT & AGV, OHT & A
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